Esco Optics, Inc.

Witness Sample, Transmission, IR

Witness Sample, Transmission, IR - Main image
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Category: Échantillons témoins de transmission

Les échantillons témoins Esco Optics utilisés pour la transmission sont polis avec précision sur les deux faces avec une qualité de rayure et de piqûre de 60-40. La planéité de chaque face est < 1 onde à 633 nm sur 80% de la zone centrale. Le parallélisme est < 1 minute(s) d'arc. Le diamètre de l'échantillon témoin est de 25.40 mm et l'épaisseur est de 1.50 mm. Tous les matériaux sont fabriqués à partir de monocristaux. Les bords sont biseautés par sécurité.

Les valeurs d'indice de réfraction indiquées sont représentatives de nd à 587 nm.

Diamètre 25.40 mm +\-0.10
Épaisseur 1.50 mm +/-0.25
Planéité < 1.0 onde à 633 nm
Qualité de surface 60-40 rayure-piqûre
Bords Meulés finement et biseautés
Matériaux CaF2, saphir, ZnSe, germanium, silicium
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Customer Reviews (5.0 / 5 · 5 reviews)

Ellie A. ★★★★★

The 60-40 scratch-dig polish is impressively clean, and the parallelism is spot on for my collimation test. These samples gave me consistent, repeatable results right out of the box.

Elizabeth ★★★★★

Flatness held under a wave at 633nm like the spec sheet promised. Both faces are properly polished at 60-40, and parallelism checked out fine on my bench. No edge chips either, which has been an issue with other suppliers.

Eli E. ★★★★★

Ordered the IR transmission sample to check our coating runs before committing a full batch, and the parallelism held up nicely when I put it under the interferometer. Flatness looked well within a wave at 633nm too, so I trust these readings.