Échantillon témoin, réflexion, 1.400-1.899
Category: Échantillons témoins de réflexion
Les échantillons témoins Esco Optics utilisés pour la réflexion sont polis avec précision sur une face à un scratch-dig de 60-40. La planéité est < 1 onde @ 633 nm à 80% de la surface utile. La deuxième face est meulée. Le parallélisme est < 1 minutes d'arc. Les bords sont biseautés de manière sûre. Le diamètre de l'échantillon témoin est de 25.40 mm et l'épaisseur est de 1.50 mm.
Tous nos échantillons témoins sont contrôlés par lot de fusion et les données de fusion individuelles sont disponibles sur demande. Les valeurs d'indice de réfraction indiquées sont représentatives de nd à 587 nm.
| Diamètre | 25.40 mm +/-0.10 |
| Épaisseur | 1.50 mm +/-0.25 |
| Planéité | < 1.0 onde @ 633 nm |
| Qualité de surface | 60-40 scratch-dig |
| Bords | Meulé fin et biseauté |
| Informations sur les matériaux | S-BSL7, silice fondue UV, S-FPL53, SF-11, SF-57 |
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