Esco Optics, Inc.

عينة شاهدة، إرسال، 1.400-1.599

عينة شاهدة، إرسال، 1.400-1.599 - Main image
$42 $70 In stock

Category: عينات شاهد الإرسال

عينات الشاهد من Esco Optics المستخدمة في النقل مصقولة بدقة من كلا الجانبين إلى خدش رقم 60-40. تسطيح كل جانب هو < 1 موجة @ 633 نانومتر عند 80% من المنطقة الفعالة. التوازي < 1 دقيقة قوسية. الحواف مشطوفة بأمان. قطر عينة الشاهد هو 25.40 مم والسمك هو 1.50 مم. 

جميع عينات الشاهد لدينا خاضعة لمراقبة دفعة الصهر وبيانات الصهر الفردية متاحة عند الطلب. قيم معامل الانكسار المدرجة هي ممثلة لـ nd عند 587 نانومتر. 

التسطيح 25.40 مم +/-0.10
السماكة  1.50 مم +/-0.25
التسطيح < 1.0 موجة @ 633 نانومتر 
جودة السطح 60-40 خدش-رقم
الحواف مطحونة ناعماً ومشطوفة
معلومات المادة CaF2، كوارتز منصهر فوق بنفسجي، S-FPL53، S-FPL51، S-BSL7، S-BAL35، شوت KG2، شوت KG5 
الاستعداد للدفع

تظهر طرق الدفع المتاحة والإجمالي النهائي عند الدفع.

التوصيل إليك

ضع في الحسبان وقت تجهيز الطلب ونقله.

Standard Shipping: التجهيز (أيام عمل) 0–1; النقل (أيام عمل) 7–15.

Express Shipping: التجهيز (أيام عمل) 0–1; النقل (أيام عمل) 7–15.

عرض الشروط
مناقشة الاسترداد

تواصل مع المتجر برقم الطلب للاستفسار عن الاسترداد.

استفسر عن مدة الاسترداد قبل الإرجاع.

عرض الشروط
خيارات الشحن

تحقق من رسوم الوجهة وخدمة الشحن المختارة.

Standard Shipping · الولايات المتحدة: ‏٠٫٠٠ US$

Express Shipping · الولايات المتحدة: ‏٣٫٩٩ US$

عرض الشروط
قبل إعادة المنتج

راجع الشروط قبل إرسال المنتج للإرجاع.

الولايات المتحدة · مهلة الإرجاع (أيام بعد التسليم): 30. طريقة الإرجاع: بالبريد. رسوم الإرجاع: يدفع البائع.

عرض الشروط

Customer Reviews (4.8 / 5 · 5 reviews)

Madison ★★★★★

The 60-40 scratch dig looks clean under my loupe, no sleeks or edge chips on either face. Parallelism held tight enough that my setup didn't need realignment between the 1.400 and 1.599 runs. Flatness reads under a wave across the clear aperture, which is what I needed for repeatable transmission nu

Ellie ★★★★★

Ordered these to check coating runs before committing a full batch, and the parallelism held up nicely across the set. Both sides are polished clean to 60-40, no sleeks or digs I could spot under the scope.

Amelia ★★★★★

The flatness on these witness samples is spot-on for my interferometer tests — easily within the specified λ/1. Parallelism is tight enough that I don't have to realign between runs.